主要规格及技术指标

1、测量范围：0.1 f A -1 A / 0.5 μV-200 V； 2、范围采样率：20 K/s-100 M/s，可进行高速电压/电流测量。 3、直流输出和任意波形生成，具有可编程分辨率（10 V峰-峰值输出）。 4、IV-T模式下最快采样率：1 us

主要功能及特色

1、电气参数测试：测量电压、电流、电阻、电容、频率等基础电学参数，验证器件电学特性达标。 2、功能完整性验证：模拟实际工作场景，检测芯片逻辑功能、信号传输、时序响应等是否符合设计要求。 3、缺陷与可靠性筛查：识别漏电、短路、开路等制造缺陷，通过高低温、老化等环境测试评估器件长期工作稳定性。 4、批量分选与数据追溯：对量产芯片进行快速检测分选（合格 / 不合格），记录测试数据用于质量追溯和工艺优化。

主要附件及配置

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