仪器分类
GaN感应耦合等离子体干法刻蚀机
GaN感应耦合等离子体干法刻蚀机
仪器编号
KG230205
规格
刻蚀机
生产厂家
sentech
型号
Si 500
制造国家
中国
分类号
03060304
放置地点
Array信息港园区3号楼干法刻蚀区
出厂日期
2023-01-11
购置日期
2023-01-11
入网日期
2021-12-28

主要规格及技术指标

3.1 SiC沟槽深槽刻蚀
刻蚀的特征尺寸:3 μm
刻蚀深度(SiC):20 μm
刻蚀速率(碳化硅):> 1000 ?/min, 40% open area
掩膜厚度 / 类型:SiO2
掩膜选择比:> 10:1(SiC : SiO2)
侧壁倾角:85 - 90°
槽底与侧壁粗糙度:< 20nm
顶角圆化深度(用SEM观测):< 0.1 μm ± 0.02 μm
总的线宽损失 / 没有磨边时的钻蚀:< 0.1μm
3.2 SiC穿孔刻蚀
Via特征尺寸:30 μm * 30 μm
刻蚀深度(SiC):300 μm
刻蚀速率(SiC):> 0.9 μm/min (40% open area)
选择比 :> 30:1(SiC : Ni)

主要功能及特色

碳化硅沟槽刻蚀

主要附件及配置

主机,冷却机,电柜,真空泵

公告名称 公告内容 发布日期
1080元/小时