仪器分类
3.1 SiC沟槽深槽刻蚀
刻蚀的特征尺寸:3 μm
刻蚀深度(SiC):20 μm
刻蚀速率(碳化硅):> 1000 ?/min, 40% open area
掩膜厚度 / 类型:SiO2
掩膜选择比:> 10:1(SiC : SiO2)
侧壁倾角:85 - 90°
槽底与侧壁粗糙度:< 20nm
顶角圆化深度(用SEM观测):< 0.1 μm ± 0.02 μm
总的线宽损失 / 没有磨边时的钻蚀:< 0.1μm
3.2 SiC穿孔刻蚀
Via特征尺寸:30 μm * 30 μm
刻蚀深度(SiC):300 μm
刻蚀速率(SiC):> 0.9 μm/min (40% open area)
选择比 :> 30:1(SiC : Ni)
碳化硅沟槽刻蚀
主机,冷却机,电柜,真空泵
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
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