主要规格及技术指标

1检测元素范围F-U；浓度范围: ppm-100% 2探测器类型：SDD检测器，电制冷方式，免维护 3探测器晶体面积: 30平方毫米， 4晶体厚度：≥0.5 mm (毫米)，高效探测 5分辨率: 优于135eV Mn Ka线 6功率: 0-50W 电压设置: 0-50KV 每1kV一档设置，电流设置：0.00-1.98 mA，可手动或自动调整，保证最大激发功率 7 Rh靶端窗，高效率发射； 8自动控制≥9种分析条件选择，≥9种不同的滤光片；根据用户分析要求自动选择滤光片，仪器可自动选择设置条件，一次采集可满足同时分析50多种元素的定量分析 9准直器:至少配置包括8.8 mm，1.0mm直径规格的准直器 10光管X-射线发射控制：仅在分析样品采谱时自动开启和关闭，从而确保X-光管的长久使用寿命。 11分析环境: 大气和真空环境。 12 样品室有较大空间，分析点位于样品室中央，可分析较大样品 13 配置无标样定量分析软件：分析涉及单、多元素浓度计算，可实现背景、光谱线交叠、光谱线干扰、基本效应、物理效应、矿物效应的多重矫正。提供10个漂移校正样。

主要功能及特色

X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品

主要附件及配置

无