仪器分类
TEM原位样品台系统
TEM原位样品台系统
仪器编号
KG241040
规格
TEM原位样品台系统
生产厂家
杭州纳控科技有限公司
型号
XNano-3D-E
制造国家
中国
分类号
03050718
放置地点
Array9143
出厂日期
2024-08-15
购置日期
2024-08-15
入网日期
2024-08-27

主要规格及技术指标

1、与指定电镜设备相兼容; 2、可以保证透射电镜原有分辨率; 3、可应用于高真空环境(10-5 Pa及以下) 4、粗调范围:XY方向≥700 μm,Z方向≥1.5 mm; 5、细调范围:XY方向≥1 μm,Z方向≥1.5 μm; 6、细调分辨率:XY方向≤2 nm,Z方向≤1 nm; 7、电流测量范围:10 nA-10 mA,多个量程; 8、电流测量分辨率:pA级别; 9、电压输出范围:高压模式范围为-100 V~+100 V; 10、软件功能:电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存

主要功能及特色

通过探针/压头对单个纳米结构进行操纵和电学测量:基于XYZ纳米操纵功能,可以实现对于样品的原位加载和操纵,基于加载的电学平台,可以完成原位 TEM 下的电学实验,通过样品杆稳定的纳来操纵功能,可以原位观察在外加电场的作用下,材料结构的变化,同时,样品杆具有良好的稳定性,完全满足HRTEM及STEM的拍摄要求:操纵控制机箱预留的通用通电接口,使得外接电源表没有限制,可以根据科研需求外接各种型号的电源表。将原位加载、观测动态微结构演化与电学性能进行表征以及研究,进一步拓展透射电镜的功能和应用场景。

主要附件及配置

公告名称 公告内容 发布日期