主要规格及技术指标

"1.系统主要工作模式1.1自动扫描模式1. 2轻敲模式1.3非接触模式成像1.4接触模式1.5磁力显微镜1.6表面电势显微镜1.7压电力显微镜2.扫描器系统Scanner*2. 1平板闭环设计扫描器，三轴运动方向正交。X-Y扫描器在样品下方,Z向扫描 器在样品上方；闭环控制XY方向扫描范围不小于100微米；Z方向闭环扫描范围 不小于15微米；Z方向噪声水平：闭环控制下，小于30pm (RMS) ; XY方向分辨 率：闭环控制下，不大于0. 25nm (RMS)。2.2进针方式：智能自动高速进针方式，釆用马达加压电陶瓷自动探测的智能进针 模式，以保护探针及样品。*2.3系统自动统计纳米力学成像模式，可以在高效得到样品图像同时，得到样品 表面刚度，杨氏模量，粘附力等力学信息；系统自动增强型静电力显微镜模式， 样品和针尖上均可加±10v电压，包括静电力显微镜，动态模式静电力显微镜，压 电力显微镜，表面电势显微镜。*2. 4配备高速扫描头，最大扫描线速度不低于50Hz；同时测试中可实现单线扫描 变速功能，遇到台阶样品台阶是速度自动降低，减少探针磨损。3.硬件系统Hardware3.1控制器额外内置三个独立锁向通道；单次测试不少于8通道，最高像素不低于 4096X4096；。*3. 2全自动X-Y位移台，样品台程序控制可自动跑满不小于200mm*200mm范围无 盲区，定位精度lum；自动进针系统，Z向马达程序控制；电动位移行程：25 mm。 *3.3必须采用同轴光源设计，物镜必须在样品的正上方，不采用物镜镜头斜视设 计。软件控制显微镜成像系统聚焦，系统可自动聚焦。3.4探针安装到扫描器上的固定方式釆用磁吸式，可以手持式安装，无需借助任何 辅助工具；不接受针脚固定方式固定探针夹。4.软件系统Software4.1具有智能测量模式，可智能自动设制实验参数，方便初学者或有大量样品情 况下进行操作实验；4.2具有下针反馈系统，利于快速下针，且避免撞针；4. 3测试及分析软件可终身免费升级(硬件允许情况下)；*4.4需配备中文界面软件操作系统具备程序化控制多点自动测试功能，自动数据 分析；5 防震隔音装置 Acoustic Enclosure System*5.1配备原厂隔音罩，可起到防风，防噪音等控制，隔温，尺寸不小于900 x800 x 1150 mm；并配备主动电磁式防震平台(非气浮减震台)。"

主要功能及特色

无

主要附件及配置

KPFM
Peakforce TUNA
SCM
PFM, EFM, MFM