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少子寿命测试仪
仪器编号
KG240646
规格
半导体测试设备
生产厂家
semilab
型号
WT-2000
制造国家
中国
分类号
03190515
放置地点
Array信息港园区3211
出厂日期
2024-06-25
购置日期
2024-06-25
入网日期
2021-12-28
主要规格及技术指标
1、样品尺寸：最大直径200mm 2、少子寿命测试范围：10纳米 ~ 1毫秒 3、测试重复性 ≤3% 4、上下料方式：手动 5、扫描分辨率：0.5, 1, 2, 4, 8, 16毫米 6、激发光源：标准349nm 7、微波探头频率：26GHz 8、数据输出：支持mapping数据输出 9、可测试材料种类：使用标准349光源可进行SiC材料的测试 10、测试原理：微波光电导衰减法
主要功能及特色
测量碳化硅的少子寿命
主要附件及配置
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
|---|
500元/小时
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