(1)电阻率: 1E5 -1E12 Ohm-cm (2)晶片直径: 50至150mm (3)测量方式: 半自动测试,可以扫描整面 (4)测量重复性 静态测试三次以上测量重复性, 1×105 ohm-cm至1×106ohm-cm范围偏差小于10%,1×106 ohm-cm至1×109ohm-cm范围偏差小于1%,1×109 ohm-cm至1×1012ohm-cm范围偏差小于10%。 (5) 晶片测试去边距离最小4mm。
电阻测试
无