仪器分类
三维光学轮廓仪
三维光学轮廓仪
仪器编号
KG230752
规格
生产厂家
Bruker
型号
CONTOURX-200
制造国家
中国
分类号
03191213
放置地点
Array信息港园区9108
出厂日期
2023-06-16
购置日期
2023-06-16
入网日期
2022-08-15

主要规格及技术指标

1、系统光源及寿命:双LED光源(白光和绿光),10万小时超长寿命,终身无需更换; 2、测量模式:垂直扫描干涉模式(VSI),相移干涉模式(PSI),结合VSI和PSI的自适应通用测量模式(USI); 3、垂直测量范围:0.1nm至10mm,全量程闭环扫描; 4、垂直分辨率:0.01nm; 5、台阶高度重复性:≤0.1%,在1sigma范围内; 6、台阶高度准确度:≤0.75%; 7、粗糙度测试RMS重复性:≤0.03nm; 8、垂直扫描速度:可达37微米/秒; 9、工控系统:工控电脑,专业自动化分析软件; 10、载物平台:可承载4寸和6寸样品; 11、电动样品台行程:150mm (XY轴)/100mm(Z轴); 12、CCD:黑白CCD,像素≤500万,阵列:1200×1000; 13、自动寻找表面功能:一键自动聚焦,10秒内得到干涉条纹; 14、自动物镜切换塔,5孔; 15、干涉物镜:5X,20X,50X; 16、样品台倾斜调整:±6°; 17、8um标准高度样品,SiC超光滑参比镜; 18、样品反射率范围:0.05% to 100%; 19、气浮式防震台; 20、测量记忆模式:可针对不同的样品设置不同的测试程序及参数,实现自动多点测量,实时自动输出测量数据,并生成报告; 21、图像拼接功能(螺旋式拼接,横向拼接等,可自定义),提供软件测试图形截屏; 22、自动测量功能:可自由选取扫描位置,输入坐标完成自动测量设置。软件具有多区域分析功能,可对样品表面微观区域进行编号分析,自动分析深度,面积及体积等参数,同时得到每一次的数据,可分析平均值,标准方差等。

主要功能及特色

表面形貌、粗糙度测量

主要附件及配置

双LED光源(白光和绿光);物镜:5X,20X;目镜:0.55X,2X

公告名称 公告内容 发布日期
200/时